Historia Historia
Superlativos técnicos: 2000 – 2004
2004 – Los tres sistemas de microscopios Axio Imager, SteREO Lumar.V12 y LSM 5 LIVE sientan nuevas bases en la microscopía de fluorescencia.

2004 – Después de más de 30 años vuelve a salir al mercado por primera vez una cámara fotográfica de pequeño formato de la marca Zeiss Ikon®.

2004 – La Carl Zeiss SMT AG aprovecha el procedimiento de inmersión utilizado desde hace mucho tiempo en la microscopía para los objetivos semiconductores Starlith® para la producción de microchips.

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2004 – Con LotuTec® Carl Zeiss ofrece a los usuarios de gafas una capa repelente a la suciedad que facilita la limpieza de los lentes de las gafas.

2004 – El microscopio quirúrgico OPMI® Pentero para la neurocirugía ofrece amplias posibilidades de visualización digital.

2004 – Con el modelo F25, Carl Zeiss presenta por primera vez una máquina de medición por coordenadas para la tecnología de microsistemas.

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2003 – El método reproductor de imágenes ApoTome® permite realizar secciones ópticas económicas de muy alta calidad en muestras biológicas marcadas con fluorescencia.

2002 – Láser quirúrgico MEL 80: para el tratamiento más rápido y preciso de ametropías.

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2001 La máquina de medición de puente CenterMax® permite medir directamente en la producción con precisión como en una sala de medición con temperatura estabilizada.

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2000 Lente progresiva Gradal Individual®: Además de la potencia dióptrica, entran por primera vez los parámetros individuales del usuario en el cálculo de la superficie progresiva.

2000 Con la innovadora tecnología de rayo electrónico, también es posible reproducir estructuras de alta resolución con vacío o voltaje bajo.

2000 – La tecnología de 193 nm de Carl Zeiss permite dar el próximo gran paso en la industria de semiconductores.
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