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| Nanotecnología |
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| Carl Zeiss SMT AG y sus equipos abastecen por todo el mundo a la industria de semiconductores y nanotecnología con una amplia variedad de tecnologías y soluciones. Ofrece una gama de productos que van desde subsistemas de última generación y componentes para la producción de instrumentos de litografía hasta herramientas de control de inspección de oblea y máscara y análisis de fallos, basados en la novedosa tecnología óptica de haz de electrones. Otra de las principales especialidades consiste en los productos y soluciones basados en haz de electrones para trabajos avanzados de laboratorio en análisis de materiales y ciencias biológicas en industria e instituciones de investigación por todo el mundo. |
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He-Ion Microscopios
Carl Zeiss SMT ha descubierto la clave que desbloquea el potencial de una fuente de un campo de gas de iones para hacer posible una herramienta completamente nueva y eficaz.
(más información en inglés) |
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Microscopios electrónicos de barrido
Microscopios electrónicos de barrido (SEM) se caracterizan por su información de superficies de alta resolución y son ampliamente utilizados en muchas campos de aplicaciones.
(más información en inglés) |
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Microscopios electrónicos de transmisión
La nueva gama LIBRA® de microscopios electrónicos de transmisión con filtro de energía (EFTEM) combinan el arte de las ópticas electrónicas con la inigualable iluminación Koehler.
(más información en inglés) |
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Centrado del Ion Beam
Las terminales de trabajo CrossBeam® combinan las incomparables capacidades para captura de imágenes de la columna de emisión de campo GEMINI® con el sofisticado haz de iones focalizados de Canion.
(más información en inglés) |
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ParticleSCAN VP
El microscopio electrónico de barrido ParticleSCAN con un sistema EDS libre de nitrógeno líquido , es una herramienta dedicada al proceso de análisis para el entorno de producción. (en inglés) |
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Folletos
He-Ion, SEM, FE-SEM,TEM y Literatura de NTS División (en inglés) |
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