Microscopía conectada. Acelere la toma de decisiones.

Microscopía industrial

170 años de experiencia y una capacidad de procesamiento de datos inigualable en todos los dispositivos: con la completa gama de soluciones de microscopía industrial conectadas y orientadas a aplicaciones, ZEISS le ayuda a convertir sus datos en información procesable y a tomar la decisión correcta en menos tiempo.

Por primera vez, enfoque completo en tiempo real

ZEISS Visioner 1

Los sistemas tradicionales de inspección ofrecen una profundidad de campo insuficiente. Esto significa que puede que algunas partes de la muestra no estén enfocadas, lo cual puede dar lugar a la omisión de algunas características, provocar fatiga en el usuario y generar lagunas en la inspección.

ZEISS Visioner 1 revoluciona el mundo de la inspección óptica y la documentación. Está basado en el sistema de lentes de matriz de microespejos (tecnología MALS^TM) y permite por primera vez la captura continua de imágenes con enfoque completo en tiempo real.

Pruebe el nuevo microscopio

Del análisis de imágenes a la productividad

Procesamiento de datos entre dimensiones

Con el portafolio de microscopía industrial, ZEISS ayuda a sus clientes a obtener, gestionar y utilizar sus datos de microscopía de manera consistente en entornos con múltiples usuarios, en diferentes departamentos y con distintos tipos de microscopios.

Esto permite un trabajo independiente del usuario, el análisis de tendencias y la observación más detallada a través de la combinación de resultados de distintas dimensiones o modalidades y el intercambio de datos. El resultado es mayor productividad y certeza en las aplicaciones de microscopía industrial.

'Go/no-go' con la inspección visual
Identificar defectos y fallos y determinar la causa principal
Caracterizar la rugosidad y topografía
Mantener un seguimiento de la contaminación por partículas
Identificar desviaciones en una dimensión geométrica crítica

Gestión de datos inteligente

para microscopía conectada

ZEN core dispone de una interfaz de usuario unificada que permite a los usuarios trabajar con los microscopios de la misma manera, desde estereomicroscopios hasta aplicaciones de alto nivel totalmente automatizadas. El potente paquete de software permite la correlación de microscopios ópticos y electrónicos en flujos de trabajo multimodales y ofrece conectividad entre sistemas, departamentos y ubicaciones. ZEN core no solo gestiona las imágenes del microscopio; sino que es el paquete más completo de herramientas de captura de imágenes, segmentación, análisis y conectividad para microscopía multimodal en laboratorios de materiales conectados.

Orientado al flujo de trabajo

ZEN core permite un control de calidad orientado al flujo de trabajo para aplicaciones de microscopía mediante
módulos de software específicos para campos de aplicación como el análisis de limpieza técnica y plantillas de trabajo para la cuantificación automatizada de imágenes.

ZEISS ZEN core

Acceso móvil

ZEN Data Explorer permite acceder al almacenamiento centralizado de datos de ZEN desde cualquier lugar con un dispositivo móvil o un navegador.

ZEISS ZEN core

Almacenamiento de datos fiable

La base de datos centralizada para una gestión y una documentación de datos seguras ofrece una solución de almacenamiento centralizada escalable para resultados, métodos y plantillas.

ZEISS ZEN core

Correlación y conectividad

A través de su salida de datos correlativos, ZEN core permite una reubicación rápida y sencilla del área de interés entre diferentes métodos de generación de imágenes y distintas tecnologías de microscopía.

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Importación de terceros

Los usuarios pueden integrar y procesar imágenes de terceros, incluso de microscopios de terceros.

Aplicaciones para sistemas de microscopía industrial

Soluciones orientadas al flujo de trabajo para un análisis de calidad eficiente

ZEISS ofrece la gama más amplia de soluciones para aplicaciones industriales en diferentes segmentos industriales: electrónica, automoción, aeronáutica, equipamiento médico y manufactura aditiva. Confíe en nosotros para solucionar sus problemas tecnológicos específicos, avanzar en sus procesos y minimizar el tiempo hasta la obtención de resultados gracias a nuestra completa gama de microscopía y soluciones de software específicas. Consiga imágenes de alta calidad con nuestras soluciones únicas de microscopía que utilizan las modalidades óptica, electrónica y de rayos X para la generación de imágenes.

Análisis de fallos y metalografía

Determinación de la causa principal del fallo

El desafío

La metalografía revela la estructura interna de los materiales. Si algo no va según lo previsto, se necesita el análisis de fallos para inspeccionar, analizar y documentar el fallo y revelar la causa principal subyacente.

La ventaja que obtiene con ZEISS

El tiempo hasta la obtención de resultados es más rápido gracias al software orientado al flujo de trabajo y a la correlación de resultados con Zen core.

Inspección visual

Rápido y repetible

El desafío

La inspección óptica ofrece a los fabricantes la posibilidad de detectar y solucionar errores desde que aparecen. Se basa en imágenes rápidas y repetibles, y en documentación fiable en planta y en los departamentos de calidad.

La ventaja que obtiene con ZEISS

ZEISS ofrece la solución de microscopía adecuada para cada aplicación: microscopios ópticos, microscopios electrónicos de barrido, microscopios electrónicos y microscopios de rayos X.

Medición óptica

Una metrología a escala microscópica

El desafío

A medida que progresa la tecnología de producción, las herramientas de fabricación pueden producir características con grandes tolerancias en las piezas de trabajo. Para garantizar la calidad de estos productos y componentes, los fabricantes deben medir en dimensiones de menor tamaño de lo que el ojo humano puede ver.

La ventaja que obtiene con ZEISS

La experiencia inigualable de ZEISS en la microscopía y sus amplios conocimientos en metrología permiten obtener resultados precisos con gran variedad de tipos de microscopios.

Caracterización de la superficie

Topografía 3D y rugosidad

El desafío

Las superficies acabadas y funcionales con una geometría compleja deben caracterizarse en términos de rugosidad y topografía tridimensional con la más alta precisión.

La ventaja que obtiene con ZEISS

En función de los requisitos de la aplicación, ZEISS puede ofrecer opciones ópticas además de soluciones de microscopía de primer nivel, como ZEISS LSM 900 MAT y ZEISS Smartproof 5.

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Análisis de partículas

Control de calidad fiable para la limpieza técnica

El desafío

La limpieza de componentes y piezas es crucial en la mayoría de procesos de fabricación. Una contaminación por partículas no detectada puede afectar al rendimiento, la vida útil y la fiabilidad de los productos finales.

La ventaja que obtiene con ZEISS

ZEISS le permite tomar decisiones informadas acerca de la causa principal de la contaminación.

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De micrómetros a nanómetros

ZEISS ofrece una gama excepcionalmente completa con todo tipo de microscopios apropiados para las aplicaciones industriales. Esto, junto con los datos correlativos de diferentes tecnologías de microscopios y el software orientado al flujo de trabajo ZEN core, proporciona a los clientes un sistema de soluciones completo y coherente que solo ZEISS puede ofrecer.