Cómo observar muestras magnéticas con microscopía electrónica de barrido

Diciembre 17 | 11:00 am - 12:00 pm

Carl Zeiss de México lo invita al seminario web sobre cómo observar muestras magnéticas con microscopía electrónica de barrido

Únase con nuestros especialistas Dr. Luyang Han & Cristopher Arciga el 17 de diciembre a las 11:00 a.m.

Temas principales:

  • Observación de muestras magnéticas con EM
  • Obtención de imagenes de alta resolución y contraste
  • Microscopía electrónica aplicada a la ciencia de los materiales magnéticos

Resúmen

La microscopía electrónica de barrido puede observar muestras magnéticas? Esta pregunta es común en el área de la investigación de los materiales. Es lógico pensar que las muestras magnéticas perturbarán al haz electrónico, e imposibilitarán la adquisición de las imágenes de la superficie.

Existen en el mercado diferentes alternativas para compensar esto y poder adquirir imágenes de este tipo de muestras; la columna Gemini cuenta 20 años de experiencia y presenta un sistema de lente objetiva que permite observar muestras que presentan campos magnéticos sin que éstos modifiquen la adquisición de una imagen de alta resolución y contraste.

Este webinar les mostrará la tecnología que ofrece Carl Zeiss en microscopía electrónica aplicada en la ciencia de los materiales, específicamente en materiales magnéticos

Ponentes

Dr. Luyan Han
Ingeniero de Aplicaciones

ZEISS Microscopy

Cristopher Arciga
Product Application & Sales Support Team

Formación:
Ingeniero Químico UNAM

Carrera:
Ingeniero de ventas y aplicaciones en Bruker Mexicana
Ingeniero de ventas en Carl Zeiss de México
Socio fundador de Consultoría Integral en Microscopía
PASS Carl Zeiss de México

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