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Microscopios electrónicos de barrido ZEISS para la industria

Microscopios electrónicos de barrido ZEISS para la industria:

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Microscopios electrónicos de barrido ZEISS
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SEM ZEISS para la industria: Catálogo de microscopía electrónica de barrido

Con sus microscopios electrónicos de barrido, ZEISS ofrece un amplio catálogo de sistemas para una gran variedad de aplicaciones en el campo del control de calidad industrial y el análisis de fallos.

Más información, más posibilidades. Análisis SEM para la industria.

La microscopía electrónica de barrido (SEM) se utiliza para el análisis extremadamente preciso de la microestructura de los componentes, con una excelente profundidad de campo y una mayor resolución. Este método genera capturas de imágenes de la superficie de la muestra con un aumento muy elevado. Además, en el SEM se puede realizar una espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDS), que permite determinar la composición química elemental de los materiales.

Soluciones adaptadas a sus necesidades

Serie de microscopios electrónicos de barrido (SEM) ZEISS
Gama ZEISS EVO Sistema básico estándar
Gama ZEISS Sigma Sistema avanzado
Gama ZEISS GeminiSEM Sistema de gama alta
Gama ZEISS Crossbeam
Gama ZEISS Crossbeam Sistema de gama alta con capacidad 3D

Resolución

a 1 kV: 9 nm

a 1 kV: 1,3 nm

a 1 kV: 0,8 nm

a 1 kV: 1.4 nm

Sistema

Microscopio electrónico de barrido convencional dedicado a flujos de trabajo EDS analíticos exigentes con opciones de software fáciles de usar

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo para imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada
 

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo para las más altas exigencias en imágenes subnanométricas, análisis y flexibilidad de muestras
 

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo para el análisis 3D de alto rendimiento y la preparación de muestras y el uso de un láser de femtosegundo
 

Ventajas
  • Gestiona aplicaciones rutinarias
  • Doble condensador para una mejor respuesta del material en su rutina EDS
  • Flexible, potente y a un buen precio
  • La alternativa inteligente a los SEM de sobremesa para el análisis de materiales
  • Corto plazo de obtención de resultados y alto rendimiento
  • Resultados precisos y reproducibles a partir de cualquier muestra
  • Configuración rápida y sencilla del experimento
  • Tecnología ZEISS Gemini
  • Detección flexible para imágenes nítidas
  • Sigma 560 presenta la mejor geometría EDS de su clase
  • Máxima calidad de imagen y versatilidad
  • Modos de imagen avanzados
  • Detección de alta eficacia, análisis excepcional
  • Tecnología ZEISS Gemini
  • Gran variedad de detectores para la mejor cobertura
     
  • La mejor resolución 3D en análisis FIB-SEM
  • Dos haces, iones y electrones
  • Herramienta de preparación de muestras
  • Benefíciese del láser de femtosegundo adicional
  • EDS, EBSD, WDS, SIMS, y mucho más a pedido
  • Maximizar los conocimientos de las muestras mediante análisis específicos en tercera dimensión
     

ZEISS EVO

ZEISS Sigma

ZEISS GeminiSEM

ZEISS Crossbeam

SEM ZEISS: Soluciones de microscopía para la industria

  • ZEISS ZEN core para microscopía electrónica

  • La evolución de la óptica ZEISS Gemini

  • Rápido análisis de fallos en 3D. Solución de flujo de trabajo correlativo de ZEISS.

  • Análisis multiescala de materiales en tan sólo cuatro pasos.

  • Localización y navegación en el SEM de forma sencilla: ZEISS ZEN Connect

  • Preparación y análisis de baterías en estado sólido con ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam y ZEISS Orion

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    Descubra ZEISS ZEN core para microscopía electrónica: intuitivo, optimizado y único. Experimente un funcionamiento y una navegación sencillos del SEM para todos los usuarios, con flujos de trabajo optimizados que integran la adquisición de imágenes y el análisis EDS. Disfrute de una experiencia integral perfecta dentro de un potente ecosistema diseñado para la eficiencia industrial.
    ZEISS ZEN core para microscopía electrónica: Explicado en 90 segundos

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    Tecnología ZEISS Gemini para la industria. ZEISS ofrece la solución adecuada para cada aplicación. Vea el video para descubrir el desarrollo y las ventajas de la tecnología Gemini.
    La evolución de la óptica ZEISS Gemini

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    ¡Vea el video sobre nuestra solución de flujo de trabajo correlativo! Descubra lo fácil que es utilizar sus datos en todas las tecnologías con las soluciones de ZEISS y cómo conseguir resultados fiables y eficientes.
    Rápido análisis de fallos en 3D. Solución de flujo de trabajo correlativo de ZEISS.

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    ¿Qué aspecto tienen sus estructuras macroscópicas? ¿Cómo encontrar las regiones de interés en una muestra grande? ¿Cómo se accede a estas regiones de interés (ROI)? ¿Y cómo se analizan más a fondo?
    Análisis multiescala de materiales en tan sólo cuatro pasos.

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    Organice, visualice y contextualice diferentes imágenes y datos de microscopía de la misma muestra, todo en un mismo lugar. La correlación entre imágenes a diferentes escalas puede superponerse en el espacio de trabajo y utilizarse para facilitar la navegación.
    Localización y navegación en el SEM de forma sencilla: ZEISS ZEN Connect

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    La inspección de muestras intactas permite determinar los cambios en la composición que influyen en la calidad y la vida útil de las baterías. Las soluciones de microscopía de ZEISS para la industria ofrecen análisis 3D no destructivos y de alta resolución, así como análisis correlativos que son importantes para la inspección de calidad.
    Preparación y análisis de baterías en estado sólido con ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam y ZEISS Orion

Intuitivo. Optimizado. Único. ZEISS ZEN core para microscopía electrónica

Transfiera sin problemas la experiencia ZEISS ZEN core de la microscopía óptica a la electrónica, beneficiándose de imágenes de alta resolución, mediciones precisas, análisis EDS de ZEISS y potentes rutinas de análisis de deep learning, todo en una plataforma unificada. Aumente su eficacia y explore nuevas posibilidades en microscopía industrial.

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ZEISS facilita el funcionamiento y la navegación del SEM
ZEISS facilita el funcionamiento y la navegación del SEM

ZEISS facilita el funcionamiento y la navegación del SEM

Cree flujos de trabajo personalizados y maneje su microscopio electrónico de forma intuitiva. Explore muestras de forma exhaustiva con ZEISS ZEN core, que integra microscopía óptica y electrónica en una única interfaz de usuario. Benefíciese de una navegación eficaz y de bancos de trabajo adaptables, que permiten a los usuarios de todos los niveles realizar una gran variedad de flujos de trabajo sin problemas.

Flujos de trabajo optimizados: integración de la adquisición de imágenes y el análisis EDS de ZEISS
Flujos de trabajo optimizados: integración de la adquisición de imágenes y el análisis EDS de ZEISS

Flujos de trabajo optimizados: integración de la adquisición de imágenes y el análisis EDS de ZEISS

Mediante la combinación de la tecnología FE-SEM y EDS más avanzada, los usuarios de la industria pueden ahora adquirir imágenes SEM y analizar la composición química dentro de una interfaz sin fisuras. Esta integración elimina la necesidad de cambiar entre computadoras, monitores o software, ofreciendo resultados fiables y de alta calidad a la vez que se avanza en los flujos de trabajo correlativos.

  • Aumentar la eficiencia con entrenamiento de IA
  • Aumentar la eficiencia con la predicción del entrenamiento de IA
  • Aumentar la eficiencia con análisis de IA
  • Aumentar la eficiencia con informes de IA
  • Aumentar la eficiencia con entrenamiento de IA
    Aumentar la eficiencia con entrenamiento de IA
  • Aumentar la eficiencia con la predicción del entrenamiento de IA
    Aumentar la eficiencia con la predicción del entrenamiento de IA
  • Aumentar la eficiencia con análisis de IA
    Aumentar la eficiencia con análisis de IA
  • Aumentar la eficiencia con informes de IA
    Aumentar la eficiencia con informes de IA

Aumentar la eficiencia con IA

En el análisis de materiales, las imágenes son sólo el principio; el verdadero valor reside en los datos. El análisis de imágenes basado en IA, aunque difícil, es esencial para los pasos posteriores.

Los algoritmos de aprendizaje automático basados en IA pueden automatizar los flujos de trabajo, mejorando tanto la velocidad como la fiabilidad. Los usuarios pueden aplicar algoritmos de IA directamente durante el análisis de imágenes u otras tareas a través de Materials Apps, que incluyen conjuntos de herramientas de IA integrados. Se pueden realizar más tareas utilizando el kit de herramientas de IA opcional o arivis Cloud, como la segmentación de instancias, una función de ZEN Intellesis.

  • La microscopía correlativa en primer plano.

    ZEISS ZEN Connect.

    Organice y visualice diferentes imágenes de microscopía para conectar datos multimodales, todo en un mismo lugar. Esta plataforma abierta le permite pasar rápidamente de la visión general a la obtención avanzada de imágenes, incluso utilizando tecnología de terceros. Con ZEN Connect, no sólo puede alinear, superponer y contextualizar todos los datos de imagen. Esto también le permite transferir fácilmente muestras y datos de imágenes entre distintos microscopios ópticos y electrónicos.

    ZEISS ZEN Connect permite
    una presentación correlativa de imágenes de distintos tipos de microscopio (por ejemplo, microscopios ópticos y electrónicos) en un mapa conectado. Esto es muy beneficioso para la investigación detallada de grandes imágenes generales, como ocurre con las celdas de las baterías. El módulo permite importar y correlacionar datos no relacionados con imágenes, como los resultados EDS. Compatible con los principales fabricantes de sistemas EDS.

  • La microscopía correlativa en primer plano.

    ZEISS ZEN Connect.

    ZEN Connect le proporciona una máxima cantidad de datos relevantes con el mínimo esfuerzo: Todas las áreas de interés se recuperan automáticamente tras una única alineación y se muestran en contexto. También puede organizar datos de múltiples modalidades. Todas las imágenes adquiridas con ZEN Connect pueden guardarse en una base de datos bien estructurada. Cada archivo de imagen recibe automáticamente un nombre predefinido individualmente. Cada imagen superpuesta y su conjunto de datos conectado son fáciles de encontrar, y los usuarios pueden además buscar por tipo de microscopio mediante la nueva función de filtro.

    Recolección de datos visualizada:
    permite importar y adjuntar datos que no sean imágenes, como informes y descripciones (en formatos PDF, pptx, xlsx, docx, etc.).

    Fácil navegación:
    haga clic en la imagen general para examinar o reevaluar cualquier rentabilidad en superposición de imagen completa.

  • Más inteligente. Más ahorro de tiempo.

    ZEISS ZEN Intellesis.

    Mediante técnicas de aprendizaje automático consolidadas, como la clasificación de píxeles o el deep learning, incluso los usuarios no expertos pueden conseguir resultados de segmentación fiables y reproducibles con ZEISS ZEN Intellesis. Basta con cargar la imagen, definir las clases, etiquetar los píxeles, entrenar el modelo y realizar la segmentación.

    El software sólo necesita entrenarse una vez con unas pocas imágenes para poder segmentar automáticamente lotes de cientos de imágenes. Esto no sólo ahorra tiempo, sino que también reduce el margen de desviaciones relacionadas con el usuario. Todos los pasos de segmentación de las numerosas imágenes similares, que requieren mucho tiempo, se realizan mediante potentes algoritmos de aprendizaje automático.

    ZEISS ZEN Intellesis
    permite la identificación de partículas mediante aprendizaje automático y proporciona una mayor precisión para la identificación de partículas, el aprendizaje de la segmentación de imágenes y la clasificación de objetos.

    Intellesis Object Classification
    se utiliza para clasificar aún más las partículas segmentadas y ordenarlas en sus subtipos. Esta información se puede utilizar para contar las partículas por tipo.

  • Más inteligente. Más ahorro de tiempo.

    ZEISS ZEN Intellesis.

    ZEN Intellesis facilita la segmentación de imágenes multidimensionales procedentes de numerosas fuentes de imagen, como microscopía de campo amplio, superresolución, fluorescencia, sin etiquetas, confocal, de lámina de luz, electrónica y de rayos X. A continuación, los módulos de evaluación del ZEN permiten crear informes automáticos y realizar mediciones conforme a las normas industriales.

    En lo que respecta a la clasificación posterior a la segmentación por tipos, ZEN Intellesis adopta un enfoque innovador. En lugar de analizar píxeles individuales como haría una solución típica de aprendizaje automático, su modelo de clasificación de objetos utiliza más de 50 propiedades medidas por objeto para distinguirlos y clasificarlos automáticamente. Según los datos tabulados, este proceso de clasificación es mucho más rápido que la segmentación realizada por redes neuronales profundas específicamente entrenadas.

    Ejemplo de grosor de capa:
    Superposición de secciones transversales FIB de capas de células solares CIGS: resultado del detector Crossbeam 550 InLens (derecha) y tras la segmentación de aprendizaje automático ZEN Intellesis (izquierda).

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