Medición microscópica automatizada de datos de imágenes 2D

Medición microscópica automatizada de datos de imágenes 2D

Mediciones nanométricas de alta velocidad

Con la medición en serie 2D, se toman varias imágenes de un objeto y luego se evalúan. Este método de medición se utiliza con frecuencia en la producción industrial, especialmente para el control de calidad de los componentes. Con el software ZEISS ZEN core, se beneficiará de una medición en serie 2D totalmente automatizada y basada en IA que ofrece resultados fiables y precisos. El software permite realizar mediciones microscópicas en rangos de micro a nano.

  • Medición en serie de planes de medición sencillos y complejos con tan sólo presionar un botón
  • Generación automática de informes y visualización sencilla de datos y gráficos
  • Puede relacionarse a sistemas comunes de gestión de calidad (PiWeb o sistemas basados en Q-DAS)
  • Suministro de planes de pruebas y resultados de mediciones a otros colegas y laboratorios

Mediciones en serie 2D automatizadas de muestras microscópicamente pequeñas

¿Es posible realizar mediciones en serie 2D automatizadas de muestras microscópicamente pequeñas, como el patrón de perforación de una placa de circuito impreso? Sí, ZEISS ZEN core lo hace posible. Las mediciones precisas a escala microscópica son uno de los puntos fuertes del software. Las máquinas de producción modernas pueden fabricar componentes microprecisos con nanoestructuras y bajas tolerancias de fabricación. Para garantizar la calidad de estos productos, hay que medir características que suelen ser imperceptibles para el ojo humano y las máquinas de medición óptica. Aquí es donde se utiliza la medición con un microscopio en el rango micro o nano.

Por lo tanto, la evaluación metrológica de las muestras nano y micro es esencial para mejorar la calidad y aumentar la productividad. Con el software de evaluación, ZEISS ofrece funciones optimizadas para la importación de archivos de imagen y su análisis.

Determinación automática de las dimensiones de distancia relevantes de un microchip

Determinación automática de las dimensiones de distancia relevantes de un microchip

Flujo de trabajo automatizado de ZEN core para la precisión dimensional de un componente electrónico

Flujo de trabajo automatizado de ZEN core para la precisión dimensional de un componente electrónico
 

Prueba ZEN core

Simplemente regístrese y pruebe ZEN core de forma gratuita, sin ninguna obligación contractual. Conozca nuestras herramientas de análisis de imágenes y aprendizaje automático en hasta 60 días.

Cargando el formulario...

Si desea obtener más información sobre el procesamiento de datos en ZEISS, consulte nuestra Política de Privacidad.