Microscopía Conectada Acelera la toma de decisiones

Serie para Microscopía Industrial

170 años de experiencia y capacidades de procesamiento de datos inigualables en todos los dispositivos: con su cartera integral de soluciones de microscopía industrial conectadas y orientadas a aplicaciones, ZEISS te ayudara a convertir los datos en información procesable y a tomar la decisión correcta más rápido.

Stereo and Zoom Microscopes

Confocal Microscopes

Por primera vez en la historia inspección óptica enfocada en tiempo real

ZEISS Visioner 1

Los sistemas clásicos de inspección ofrecen poca profundidad de campo, lo que significa que es posible que partes de la muestra no estén enfocadas, lo que puede provocar que falten características, fatiga del usuario y una inspección incompleta.

ZEISS Visioner 1 revoluciona el mundo de la inspección y documentación ópticas. Impulsado por el exclusivo sistema de lentes de matriz de microespejos (tecnología MALSTM), permite, por primera vez, obtener imágenes enfocadas en tiempo real, la primera vez, siempre.

Del análisis de imágenes a la productividad

Procesamiento de datos en todas las dimensiones

Con la serie de microscopía industrial, ZEISS ayuda a sus clientes a obtener, gestionar y utilizar sus datos de microscopía de forma coherente en entornos multiusuario, en varios departamentos y en diferentes tipos de microscopía.

Esto permite una operación independiente del usuario, el análisis de tendencias y un conocimiento más profundo a través de la combinación de resultados en todas las dimensiones o modalidades y el intercambio de datos. El resultado: más productividad y mayor certeza en aplicaciones de microscopía industrial.

  • Pasa / no pasa para inspección visual
  • Identifica defectos o fallas y determinar su causa raíz
  • Caracterizar rugosidad y topografía
  • Manten un registro de la contaminación por partículas
  • Identifica desviaciones en la dimensión geométrica crítica.

Manejo inteligente de datos

para microscopía conectada

La interfaz de usuario unificada de ZEN core permite a los usuarios operar microscopios de la misma manera, desde microscopios estereoscópicos hasta aplicaciones de alta gama totalmente automatizadas. El poderoso paquete de software permite la correlación de microscopía óptica y electrónica en flujos de trabajo multimodales y proporciona conectividad entre sistemas, departamentos y ubicaciones. El núcleo ZEN maneja más que solo imágenes de microscopía. Es el conjunto más completo de herramientas de imagen, segmentación, análisis y conectividad de datos para microscopía multimodal en laboratorios de materiales conectados.

Workflow-oriented

ZEN core enables a workflow-oriented quality assurance for microscopy applications through dedicated
software modules for application fields such as technical cleanliness analysis and job templates for automated image quantification.

Mobile Access

ZEN Data Explorer allows access to all data on the central ZEN Data Storage from any place via mobile device or browser.

Reliable Data Storage

The central database for secure data handling and documentation offers a scalable central storage solution for results, methods, and templates.

Correlation and Connectivity

Through its correlative data output, ZEN core allows quick and easy re-localization of area of interests across different imaging methods and microscope technologies.

Third-Party Import

Users can integrate and process third-party images, even from third-party microscopes.

Applications for Industrial Microscopy Systems

Workflow-oriented solutions for efficient quality analysis

ZEISS delivers the broadest range of solutions for industrual applications in various industrial segments: electronics, automotive, aerospace, medical equipment and additive manufacturing. Partner with us to solve your specific technological problems, advance your processes and minimize your time-to-result using our comprehensive microscopy portfolio and targeted software solutions. Achieve high quality imaging with our unique microscopy solutions using light, X-Ray and electron imaging modalities.

Failure Analysis and Metallography

Determining the root cause of failure

The Challenge

Metallography reveals the internal structure of materials. In case something does not go as planned, failure analysis is needed to inspect, analyze, and document the failure to reveal the underlying root cause. 

Your benefit with ZEISS

Faster time-to-result through workflow-oriented software and correlation of results with ZEN core.

Visual Inspection

Fast and repeatable

The Challenge

Optical inspection offers manufacturers the ability to catch and stop errors the moment they appear. It relies on fast and repeatable images and reliable documentation at the shop floor and in quality departments. 

Your benefit with ZEISS

ZEISS offers the right microscopy solution for every inspection application: Light microscopes, Scanning electron microscopes and X-Ray microscopes.

Optical Measurement

Precise metrology at a microscopic scale

The Challenge

As production technology progresses, manufacturing tools are able to produce features with ambitious tolerances on work pieces. To assure the quality of these products and components, manufacturers need to measure in dimensions smaller than a human eye can see. 

Your benefit with ZEISS

ZEISS’s unmatched experience in microscopy and its extensive know-how in metrology delivers accurate results with a broad range of microscope types.

Surface Characterization

3D topography and roughness

The Challenge

Finished and functional surfaces with a complex geometry need to be characterized for roughness and three-dimensional topography with highest precision.

Your benefit with ZEISS

Depending on the application requirement, ZEISS can offer tactile options in addition to class-leading microscopy solutions like the ZEISS LSM 900 MAT and ZEISS Smartproof 5.

Particle Analysis

Reliable quality assurance for technical cleanliness

The Challenge

The cleanliness of components and parts is at the center of most industrial manufacturing processes. Undiscovered particulate contamination may affect the performance, lifetime, and reliability of final products. 

Your benefit with ZEISS

ZEISS enables you to make informed decisions about the root cause of contamination.

Del micrómetro al nanómetro

ZEISS ofrece una cartera única e integral de todos los tipos de microscopios relevantes para aplicaciones industriales. Esto, combinado con los datos correlacionables entre las diversas tecnologías de microscopios y el software central ZEN orientado al flujo de trabajo, proporciona a los clientes un sistema de solución completo y coherente que solo ZEISS puede ofrecer.

Light/Confocal

Tomografía por Rayos X

Light/Confocal

Scanning Electron

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