ZEISS Visioner 1

Microscopía digital con tecnología MALS™, inspección óptica de enfoque completo en tiempo real

Los sistemas clásicos de inspección ofrecen una profundidad de campo insuficiente. Esto significa que algunas partes de la muestra pueden no estar enfocadas, lo cual puede dar lugar a la omisión de algunas características, provocar fatiga en el usuario y generar lagunas en la inspección.

ZEISS Visioner 1 revoluciona el mundo de la inspección óptica y la documentación. Está basado en el sistema de lentes de matriz de microespejos (tecnología MALSTM) y permite por primera vez la captura continua de imágenes de enfoque completo en tiempo real.

Profundidad de campo extendida en tiempo real (EDoF)

EDoF es un proceso en el que se combinan múltiples imágenes a través del plano focal para crear una imagen enfocada.

Con los sistemas de microscopía clásica, esto puede ser complejo y llevar mucho tiempo.
ZEISS Visioner 1 permite al usuario ver la muestra de enfoque completo en tiempo real, sin necesidad de z-stack ni de procesar posteriormente una serie de imágenes.

La tecnología de sistema único de lentes de matriz de microespejos (MALS™) permite la profundidad de campo extendida en tiempo real (EDoF).

Reformulando las reglas de la óptica

Tecnología de sistema de lentes de matriz de microespejos (MALS™)

MALS™ permite la inspección óptica enfocada con diferencias de altura de hasta 69 mm*. Sin necesidad de z-stack ni reenfoque.

Mediante un sistema de lentes de matriz de microespejos (MALS™) podemos generar lentes "virtuales" con curvaturas notablemente distintas y, por ende, diferentes planos de enfoque. Esto se consigue cambiando la orientación de cada microespejo individual de forma organizada.

Al remodelar la curvatura de esta lente "virtual" a gran velocidad, es posible el enfoque ultrarrápido y la captura de imágenes de enfoque completo en tiempo real, así como la documentación.

ZEISS Visioner 1 con tecnología MALS™

  • Profundidad de campo extendida hasta 100 veces más utilizable
  • Permite diferencias de altura de hasta 69 mm*
  • Matriz de microespejos reflectantes con curvaturas (variables) dispuestas en un plano
  • Cada microespejo mide aprox. 100x100 µm
  • Cada microespejo rota y se traslada para formar las superficies ópticas con curvaturas variables
  • Sin necesidad de z-stack ni reenfoque

Visualización en 3D increíblemente rápida con documentación

ZEISS Visioner 1 no solo simplifica las tareas de captura de imágenes y documentación, sino que la EDoF en tiempo real le permite inspeccionar su componente con mayor rapidez, aumentando el rendimiento.

Una extensión de sus sentidos

Funcionamiento ergonómico

Despídase de la fatiga producida por los oculares y trabaje de forma más eficiente usando las manos para sus tareas de inspección y no para el reajuste constante del microscopio.

Todo se visualiza en tiempo real con un enfoque completo y en una sola pantalla, por lo que la tarea de inspección resulta más natural, como una extensión de sus sentidos.

Postura de microscopio clásica
Postura de microscopio clásica
Postura ergonómica con ZEISS Visioner 1
Postura ergonómica con ZEISS Visioner 1

Aplicaciones

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Inspeccionado con microscopio clásico
Elec-visioner-scale
Inspeccionado con ZEISS Visioner 1
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Inspeccionado con microscopio clásico
Bulb-visioner-scale2
Inspeccionado con ZEISS Visioner 1
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Inspeccionado con microscopio clásico
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Inspeccionado con ZEISS Visioner 1

Comparación de imagen de una aguja, una tarjeta electrónica y una resistencia usando un método de inspección clásico y ZEISS Visioner 1. Gracias a la nueva tecnología MALS™, podrá ver la pieza con enfoque completo una y otra vez.