El nuevo nivel de simplicidad en la tecnología CT
ZEISS METROTOM 1
¿Quieres inspeccionar el interior de tus piezas de plástico o de metal ligero, pero la tomografía computarizada parece demasiado compleja? Descubre el último miembro de la familia ZEISS METROTOM, que te permite sumergirte en el mundo de la tecnología de rayos X y sus componentes de la forma más sencilla posible.
Tomografía computarizada industrial con ZEISS METROTOM
Con un tomógrafo computarizado industrial de ZEISS se pueden realizar trabajos de medición e inspección de manera eficaz con un solo escaneo de rayos X. La prueba de conformidad reglamentaria, la mecánica de precisión empleada y el sofisticado método de calibración aseguran la trazabilidad del sistema. Las guías lineales y la mesa giratoria cumplen las más altas exigencias de precisión de los clientes.
La tercera generación de ZEISS METROTOM 1500
Utiliza hoy un control de calidad preparado para el futuro
La gama ZEISS METROTOM lleva doce años ofreciendo una tecnología CT de confianza para el control de calidad. La tercera generación del sistema de tomografía computarizada (CT) ZEISS METROTOM 1500 es la prueba de que una tecnología de rayos X fiable y avanzada ya es posible hoy en día. Ya puede poner a prueba hoy su control de calidad del futuro.
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La puerta en la parte frontal que permite al trabajador entrar en el sistema y utilizarla como punto de acceso para el mantenimiento, permite cargar componentes más grandes y pesados con mayor comodidad. Gracias a ello, el usuario puede realizar mediciones por CT de forma fácil, segura y precisa.
Tanto para el transporte, la instalación, el mantenimiento y el espacio necesario en el laboratorio del cliente: cuanto más pequeño sea el sistema, mejor. El diseño de la cabina del sistema CT industrial más grande de ZEISS se ha orientado totalmente a dar un uso eficiente al espacio.
Ver más.
La tercera generación incluye un nuevo detector 3k que genera conjuntos de datos de volumen 3D con mayor resolución; es decir, con una cantidad de vóxeles mayor es posible detectar defectos más pequeños.
Más rápido.
El tiempo del escaneado se puede reducir hasta en un 75 % mediante los distintos modos de operación del detector, además de conseguir un tamaño de vóxel comparable al de un detector 2k.
Gama ZEISS METROTOM
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ZEISS METROTOM 800 130 kV
For measurements of plastic parts with high accuracy
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ZEISS METROTOM 800 225 kV
For fast scans and denser parts
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ZEISS METROTOM 1500
Advanced CT technology for fast scans of large parts
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Análisis completo de datos de CT en 3D
El software de análisis fácil de usar e incluso para principiantesa, GOM Volume Inspect permite un análisis completo de datos de CT en 3D. Se pueden analizar con precisión geometrías, huecos de contracción o estructuras internas y ensamblajes. Incluso los defectos más pequeños se hacen visibles a través de imágenes de cortes individuales y se pueden evaluar automáticamente de acuerdo con varios criterios. También puedes cargar datos de volumen de varios componentes en un proyecto, realizar un análisis de tendencias y comparar el análisis con datos CAD. De esta manera, la calidad de su componente se puede determinar y documentar exactamente, y todo esto en un solo software.
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ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)
Artificial intelligence in computed tomography
The ZADD add-on in GOM Volume Inspect detects even small and fuzzy defects in components reliably, quickly and automatically, ZADD detects, localizes and classifies defects or anomalies while analyzing them in detail by reading CT-scans. The software add-on is applicable for castings, injection molded parts, batteries printed components and other applications.
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Calibración DAkkS para mayor confianza
Los estándares de calidad más altos en la industria automotriz, médica o farmacéutica a menudo hacen que sea necesario confiar en procedimientos de inspección de CT acreditados. Éstos garantizan una medición objetiva y conforme a las normas de las piezas según VDI / VDE 2630 parte 1.3. La certificación DAkkS se acepta en todo el mundo, lo que elimina los costos de múltiples evaluaciones. ¡Ahora la calibración DAkkS también está disponible para los tomógrafos computarizados de las series ZEISS METROTOM 800 y 1500! Benefíciate de sus ventajas: reduce gastos y genere más confianza para tus clientes.
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Medir fácilmente con ZEISS METROTOM
![Inspección metrológica de un componente de metal ligero]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-inspection-light-metal-ndt-neo-insight-computed-tomography.ts-1522767116642.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=7463ed65e63f82ec238d2f54f91a3f3d","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-inspection-light-metal-ndt-neo-insight-computed-tomography.ts-1522767116642.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=9f3cff7f9a2f1a99cea787555b0816bf","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-inspection-light-metal-ndt-neo-insight-computed-tomography.ts-1522767116642.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=85f0fad908cde7a7791a05192478f98e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-inspection-light-metal-ndt-neo-insight-computed-tomography.ts-1522767116642.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=5629a8f426e74eef4c04385cfb9a895f"} "Inspección metrológica de un componente de metal ligero")
Medición e inspección de componentes enteros
ZEISS METROTOM es un tomógrafo computarizado industrial utilizado para medir e inspeccionar componentes enteros de plástico o metal ligero. Con la tecnología de medición tradicional, las estructuras ocultas solamente se pueden inspeccionar tras un largo proceso de destrucción del componente capa por capa.
Medir muchas características con precisión y sin esfuerzo
Con el sistema de tomografía computarizada ZEISS METROTOM se escanean numerosas características de componente de una sola pasada. Las mediciones resultantes son precisas y trazables. Comparado con el proceso de medición táctil, ZEISS METROTOM es considerablemente más rápido en la captura de muchos puntos de medición.
![Medición de una base para clavija.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-software-defectanalysis-ndt-computed-tomography-quality-control.ts-1520345349554.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C45%2C1000%2C563&w=640&s=753802439a3a448507feac147870290c","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-software-defectanalysis-ndt-computed-tomography-quality-control.ts-1520345349554.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C45%2C1000%2C563&w=1280&s=c86e0af377c76d1785d06a2bf619e238","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-software-defectanalysis-ndt-computed-tomography-quality-control.ts-1520345349554.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C45%2C1000%2C563&w=832&s=a7907a7842f1007b864e36ec66783b4f","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/x-ray-software-defectanalysis-ndt-computed-tomography-quality-control.ts-1520345349554.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=0%2C45%2C1000%2C563&w=1920&s=f427610b3b9da2069b6e2ee6307871ab"} "Medición de una base para clavija.")