New: High Resolution Option

Tecnología de rayos X fácil de usar

Un nuevo nivel de simplicidad

Inspeccione lo invisible de una sola vez

ZEISS METROTOM 1

Con la tecnología de Tomografía Computarizada (CT), fácil de usar, de ZEISS METROTOM 1, cualquiera puede realizar tareas complejas de medición e inspección de manera eficiente con un solo escaneo. Mida e inspeccione los defectos ocultos y las estructuras internas que no se pueden detectar con sistemas de medición ópticos o táctiles. El tamaño de ZEISS METROTOM 1 también es una ventaja. Gracias al poco espacio que ocupa, el escáner de TC cabe fácilmente en su laboratorio de metrología y permite realizar mediciones e inspecciones internas a la vez.

Un solo sistema de TC, varias ventajas

ZEISS METROTOM 1 es el dispositivo ideal para mejorar su equipo de inspección de calidad mediante tomografía computarizada industrial. El sistema de TC cuenta con numerosas ventajas:

Manejo sencillo

X-Ray easy-to-use

ZEISS METROTOM 1 se ha creado pensando en el usuario. La instalación es un proceso sencillo y se necesita poca formación para poder usarlo. ¡Solo hay que hacer clic para iniciar un proceso de escaneo!

Mediciones precisas

Precise X-Ray Technology

Pequeño pero completo: con ZEISS Metrotom 1 podrá medir y evaluar piezas completas. Esto le permite realizar comparaciones precisas nominales y reales, comprobaciones dimensionales y análisis del espesor de la pared con la certeza de que puede confiar en sus mediciones.

Espacio de instalación mínimo

Compact CT system

ZEISS Metrotom 1 es sorprendentemente compacto. Sus dimensiones son 1750 mm (An.) x 1820 mm (Al.) x 870 mm (Pr.), por lo que el sistema de TC cabe en cualquier laboratorio de metrología y le permite realizar mediciones y controles de calidad sin tener que recurrir a servicios de medición externos.

Rápido retorno de inversión

Fast return on investment

Además de un bajo costo de adquisición, el costo de mantenimiento también es mínimo gracias a que el tubo del ZEISS METROTOM 1 no requiere mantenimiento cuando está en servicio.

ZEISS METROTOM 1: fiable y compacto

Tecnología de TC progresiva para cualquier laboratorio de metrología

ZEISS es experto en el campo de la tecnología de TC y proporciona sistemas fiables de la familia METROTOM desde hace más de una década. Gracias al sistema de tomografía computarizada ZEISS METROTOM 1, todo el mundo puede beneficiarse de una tecnología de rayos X fiable y de un control de calidad no destructivo.

ZEISS METROTOM 1
Detector de panel plano

Los rayos X que atraviesan la muestra se detectan mediante un detector de panel plano.

Mesa giratoria

La mesa giratoria es un componente esencial durante el proceso de escaneo que permite capturar un conjunto de datos completo en 3D de una pieza.

Tubo de rayos X

Los rayos X se generan desde el tubo de rayos X y penetran en la muestra.

Medición de componentes enteros. Garantía de piezas impecables

Con ZEISS METROTOM 1 puede detectar fácilmente los defectos ocultos de las piezas de trabajo en su laboratorio de medición. Con ZEISS METROTOM 1 podrá inspeccionar una gran variedad de piezas, como conectores, tapones de plástico, piezas de aluminio, etc., ya sean de tamaño mediano o pequeño, de plástico o de metal ligero.

GOM Volume Inspect

Análisis completo de datos por TC en 3D

ZEISS METROTOM 1 incluye el software de servicio e inspección GOM Volume Inspect. El software es adecuado para principiantes y combina todas las fases del proceso de TC, desde la configuración y reconstrucción del escaneo hasta la evaluación y notificación de los datos. Se pueden evaluar con precisión geometrías, cavidades o estructuras internas y ensambles. Hasta los defectos más pequeños se visualizan gracias a las imágenes de secciones individuales que se pueden evaluar automáticamente usando una amplia gama de criterios. También es posible cargar datos del volumen de varios componentes en un proyecto, realizar un análisis de las tendencias, comparar los datos en 3D obtenidos con los datos del modelo CAD y mucho más, todo ello con un solo software.

ZEISS METROTOM 1 with GOM Volume Inspect

Experimente cómo funciona el sistema

Datos técnicos

Compacto y potente de la mano de ZEISS

Campos de aplicación:
Inspección no destructiva, escaneo simultáneo de varias piezas de trabajo.

Funciones de inspección:
Mediciones de estructuras internas y externas, inspección de defectos internos como cavidades por contracción.

X-ray source

160 kV

X-ray detector (pixels):

2.5 k (2,500 x 2,500)

Measuring volume

165 x 140 mm

Metrology specification (MPE SD)

5 µm +L/100

Dimensions

1750 mm (W) x 1820 mm (H) x 870 mm (D)

Weight

2100 kg

Software

GOM Volume Inspect (included)

High Resolution option

With the HR option you can increase the resolution of ZEISS METROTOM 1 system from 65.3 μm to 32.6 μm to better identify defects and to ensure the functionality and quality of your parts.

  • Spot even smaller details and avoid unnoticed defects
  • Improved image quality
  • Easy switch between Standard and High Resolution mode
  • Option can be installed by the user easily and quickly
     

Features

ZEISS METROTOM 1
Standard

ZEISS METROTOM 1
High Resolution

Resolution

65.3 μm

32.6 μm

Measuring volume

165 x 140 mm

80 x 80 mm

Number of pixels

2,560 x 2,560

5,120 x 5,120

Pixel size

78 μm x 78 μm

39 μm x 39 μm

Accessories included

Fixture plates (2x)

Plate holder
Fixture plate
Hexagonal screwdriver M3
Adhesive discs (2x)

View more details and receive a sharper image with the High Resolution option.

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